電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ)，元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此，必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作，通過分析確定失效機(jī)理，找出失效原因，反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用，共同研究和實(shí)施糾正措施，提高電子元器件的可靠性。

電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機(jī)理，確認(rèn)結(jié)果的失效原因，提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)，提高元器件可靠性。

失效分析意義

1、提供電子元器件設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)的依據(jù)，指引產(chǎn)品可靠性工作方向；

2、查明電子元器件失效根本原因，有效提出并實(shí)施可靠性改進(jìn)措施；

3、提高成品產(chǎn)品成品率及使用可靠性，提升企業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力；

4、明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方，為司法仲裁提供依據(jù)。

分析過的元器件種類

集成電路、場(chǎng)效應(yīng)管、二極管、發(fā)光二極管、三極管、晶閘管、電阻、電容、電感、繼電器、連接器、光耦、晶振等各種有源/無源器件。

中科檢測(cè)是具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，累計(jì)數(shù)十年檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)和資源團(tuán)隊(duì)，能對(duì)電子元器件失效原因進(jìn)行檢測(cè)分析，并根據(jù)失效分析和根因?yàn)楫a(chǎn)品物料優(yōu)選、設(shè)計(jì)改進(jìn)和失效預(yù)防提供技術(shù)解決方案。